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晶片电阻低温操作试验
低温操作试验依照以下步骤进行：
A.将受测电阻置入恒温25℃之测试箱内。
B.经过15小时后，将温度降低到-65℃，并维持1小时。
D.然后关掉电源15分钟。
C.然后再同一温度下(-65℃)，按该受测电阻之额定负荷加压45分钟。
E.再将温度调回25℃，按其试验前后的差值求得变化率。
温度循环实验
1 2 3 4 5 6 7 8
温度 65 65 25 65 65 65 -10 25
时间 2 3.5 2.5 2 3.5 4.5 3 3
负载率 On Off Off Off Off Off Off Off
湿度 90 95 95 95 95 95 95 95
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